Наверх
Внимание! Для того чтобы лучше использовать наш ресурс, нажми здесь и стань одним из участников нашего проекта!

Панель управления

Важная информация!!!

Связь с администрацией сайта!

Голосование

Как быстро загружается наш сайт ?

Баннеры

  • Яндекс.Метрика

Облако тегов

Для рекламодателей

RedTram

Афонский А. А., Дьяконов В. П. Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике


На этой странице, в категории Книги, Журналы, вы можете скачать Афонский А. А., Дьяконов В. П. Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике с таких известных файлообменников как Letitbit.net , Vip-file.com, Shareflare.net, Unibytes.com, Turbobit.net

Огромное спасибо за бесплатно предоставленную новость журналисту Gunpowder, если она вам понравилась, не забудьте поделиться ссылкой на бесплатную скачку файла с друзьями. Если по каким-то причинам у вас не получается скачать Афонский А. А., Дьяконов В. П. Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике или ссылки оказались битыми (контент удален), сообщите об этом в комментариях, либо нажмите на и опишите свою проблему. Мы постараемся вам помочь. Если вы нашли грамматические ошибки, выделите слово с ошибкой и нажмите CTRL + ENTER, в появившемся окне добавьте свой комментарий.
Афонский А. А., Дьяконов В. П. Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

Издательство: ДМК Пресс
Год: 2011
Страниц: 688
Формат: PDF
Размер: 47,0 МБ
ISBN: 50,2
Качество: Отличное

Содержание:

Предисловие
   Благодарности и адреса для переписки
1. Средства и объекты нанотехнологий
1.1. Переход от микротехнологии к нанотехнологии
1.2. Электронная и рентгеновская микроскопия
1.3. Компоненты интегральных микросхем
1.4. Интегральные микросхемы
1.5. Чудеса нанотехнологий
1.6. От фантастики к практике
2. Измерения на постоянном токе
2.1. Основные компоненты электронных схем
2.2. Источники электропитания и их имитаторы
2.3. Измерение параметров резистивных компонентов
2.4. Измерение сверхмалых постоянных токов и напряжений
2.5. Аксессуары, опции и средства интеграции приборов
2.6. Анализатор/источник постоянных напряжений Agilent № 6705A
3. Измерения на переменном токе
3.1. Основные параметры переменного напряжения и тока
3.2. Измерение параметров переменного напряжения и тока
3.3. Параметры реактивных компонентов и цепей с ними
3.4. Измерение параметров реактивных компонентов
4. Измерительные генераторы сигналов
4.1. Аналоговые генераторы синусоидальных сигналов
4.2. Основы цифрового синтеза частоты и формы сигналов
4.3. ГСС с цифровым синтезом умеренной сложности
4.4. Векторные генераторы синусоидальных сигналов
4.5. Импульсные сигналы и принципы их генерации
4.6. Генераторы импульсов сверхмалой длительности
4.7. Аналоговые функциональные генераторы
4.8. функциональные генераторы с цифровым синтезом выходных сигналов
4.9. Генераторы серии AFG3000 компании Tektronix
4.10. Программное обеспечение генераторов AFG3000
4.11. Программа Nl Signal Express Tektronix Edition
4.12. Генераторы сигналов произвольной формы класса AWG
4.13. Генераторы цифровых сигналов произвольной формы (паттернов)
5. Современные электронные осциллографы
5.1. Закат аналоговой осциллографии
5.2. Основы построения и работы цифровых запоминающих осциллографов
5.3. «Бюджетные» цифровые запоминающие осциллографы
5.4. Цифровые осциллографы компании Tektronix
5.5. Цифровые осциллографы фирмы LeCroy
5.6. Цифровые осциллографы фирмы Agilent Technologies
5.7. Стробоскопические осциллографы
6. Искусство осциллографии
6.1. Аксессуары осциллографов и их применение
6.2. Согласованные широкополосные устройства
6.3. Активные осциллографические пробники
6.4. Специальные устройства подключения и фиксации пробников
6.5. Импульсная рефлектоскопия и рефлетометрия
6.6. Спектральный анализ с помощью цифровых осциллографов
6.7. Другие возможности современных осциллографов
6.8. Применение системы MATLAB
6.9. Математические операции с сигналами
6.10. Спектральный анализ реальных осциллограмм в MATLAB
6.11. Вейвлет-анализ реальных осциллограмм в MATLAB
7. Анализаторы сигналов, спектра и цепей
7.1. Введение в осциллографические анализаторы
7.2. Гетеродинные и векторные анализаторы спектра
7.3. Серийные цифровые анализаторы спектра
7.4. Анализаторы спектра реального времени
7.5. Примеры работы с анализатором Tektronix RSA 6114А
7.6. Анализаторы сигналов и источников сигналов
7.7. Векторные и скалярные анализаторы цепей
7.8. Аксессуары для анализаторов спектра
8. Последовательные и логические анализаторы, осциллографы смешанных сигналов
8.1. Последовательные анализаторы сигналов
8.2. Анализ логических состояний
8.3. Современные логические анализаторы
8.4. Осциллографы смешанных сигналов
8.5. Подключение логических анализаторов к испытуемому устройству
9. Исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
9.1. Основы измерения статических параметров полупроводниковых приборов
9.2. Источники/измерители фирмы Keithley для тестирования полупроводниковых приборов и микросхем
9.3. Снятие характеристик полевых транзисторов
9.4. Анализатор/характериограф силовых полупроводниковых приборов Agilent В1501А
9.5. Измерение радиочастотных параметров полупроводниковых приборов и микросхем
9.6. Измерение дифференциальных параметров
9.7. Измерения временных параметров полупроводниковых приборов
9.8. Тестирование интегральных микросхем
10. Измерение параметров оптико-электронных приборов
10.1. Типы, конструктивные особенности и назначение оптико-электронных приборов
10.2. Тестирование излучателей светового излучения
10.3. Тестирование импульсных лазерных излучателей
10.4. Тестирование фотодиодов и фототранзисторов
10.5. Исследование высокоскоростных излучателей и приемников света
10.6. Испытание световолоконных кабелей и линий передачи
10.7. Основы электронно-лазерной осциллографии
Литература

Скачать Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Скачать с Dfiles.ru

Скачать с Letitbit.net

Скачать с Turbobit.net

Скачать с Vip-file.com

  • Нравится
  • 0
Помощь сайту. Как бесплатно качать: с файлообменников RapidShare.com, DepositFiles.com, LetItBit.net
Если вы обнаружили, что в новости есть не рабочие ссылки, то сообщите об этом любым для вас удобным способом, в комментариях либо автору новости.
А так же вас заинтересуют:
     
Вы кто ? Скорее всего вы забыли зарегистрироваться :-), или все таки забыли зайти под своим именем ?


Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.